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CS-NanoPALS

NegotiableUpdate on 05/07
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Overview

CS-NanoPALS高灵敏Zeta电位及粒度分析仪粒度测量采用动态光散射原理,是一种准确、快速、便捷的纳米、亚微米粒度分析测试仪器。Zeta电位测量采用硬件PALS技术,与传统基于频移技术的光散射方法相比,灵敏度可提高约1000倍,可适用于诸如低介电常数、 高粘度、 高盐浓度以及等电点附近这些测量条件下的样品测量。$r$n$r$n$r$n$r$n许多从事新材料、生命科学、环境工程等新兴学科的研究人员长期以来苦于无法对诸

Product Details

CS-NanoPALS高灵敏Zeta电位及粒度分析仪粒度测量采用动态光散射原理,是一种准确、快速、便捷的纳米、亚微米粒度分析测试仪器。Zeta电位测量采用硬件PALS技术,与传统基于频移技术的光散射方法相比,灵敏度可提高约1000倍,可适用于诸如低介电常数、 高粘度、 高盐浓度以及等电点附近这些测量条件下的样品测量。


许多从事新材料、生命科学、环境工程等新兴学科的研究人员长期以来苦于无法对诸如在低介电常数、高粘度、高盐浓度以及等电点附近这些测量条件下的样品进行分析,这是因为其电泳迁移率比通常水相条件下低10-1000倍,传统方法没有足够的灵敏度进行测量,CS-NanoPALS的出现为他们提供了准确可信的测量技术。


简单的计算即可说明硬件PALS技术的特性:



纳米粒度测量部分使用动态光散射技术(DLS),即由于颗粒在悬浮液中的布朗运动,使得光强随时间产生脉动。采用数字相关器技术处理脉冲信号,将光强的波动转化为相关函数。自相关函数包含了悬浮颗粒或者溶液中高分子的扩散速度信息,进而利用Stokes-Einstein方程计算得出粒子的扩散系数和粒子粒径Rₕ及其分布:



主要特点:

1、高功率半导体激光器:功率40mW,波长640nm红光激光器;

2、高灵敏度检测器:APD雪崩型二极管检测器;

3、表面Zeta电位测量:具有表面Zeta电位测量功能,可用于测量薄膜表面Zeta电位;

4、微流变测量:具有微流变测量功能,可通过颗粒运动分析(如均方位移MSD)表征复杂流体的流变特性,包括粘度、弹性模量G'及粘性模量G'',进行低粘性、弱结构及高应变敏感样品的粘弹性表征;

5、在线检测器功能:可作为在线检测器与GPC/SEC连接;

6、高灵敏性:硬件PALS技术,灵敏度高约1000倍,适用于高盐浓度、有机溶剂、油相体系;

7、*的数据分析功能:软件提供测试过程光强实时变化图,并提供灰尘过滤功能;可自动研究粒度随时间、温度(蛋白熔点)以及其他参数变化的趋势分析。


典型应用:

1、脂质体、生物胶体

2、陶瓷

3、颜料、油墨

4、医药

5、乳剂(食品、化妆品)

6、废水处理

7、胶乳

8、炭黑